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Nano Indenter® G200X 奈米壓痕儀
Nano Indenter G200X是一種易於使用的納米級力學測試工具，可快速提供精確的定量分析結果。 G200X系統可處理從硬質塗層到軟質聚合物的各種樣品，並提供KLA Instruments納米壓痕儀產品線中最全面的測試套件。 產品說明 Nano Indenter G200X提供了易於使用的納米級力學測試工具，並快速、精確地對結果進行定量分析。 G200X系統配置了我們性能最好的運動系統、最大的樣品裝載系統和高解析度光學顯微鏡。 因為擁有InView軟體、InQuest控制器和InForce作動器，我們的整個壓痕產品線均擁有卓越的性能。 G200X系統選件包括連續剛度測量（CSM）、掃描探針顯微成像、劃痕測試、頻率掃描、電學性能測量、快速壓痕測試和衝擊測試。 主要功能 l 電磁驅動作動器可實現載荷和位移的寬動態範圍控制 l 高解析度光學顯微鏡與精密XYZ移動系統的結合能實現高精度觀察與定位測試樣本。 l 便捷的樣品裝載台與多樣品定位功能實現高通量測試。 l 模組選件遠不止能進行壓痕測試，還可進行SPM成像、劃痕測試、高溫納米壓痕測量、動態壓痕測試（連續剛度測量）和快速壓痕測試等模組化升級選件。 l 直觀的使用者操作介面便於快速進行測試設置; 僅需點擊幾下滑鼠即可完成測試的參數設置。 l 即時高效的實驗控制，簡單易用的測試流程開發和測試設置。 l 全套InView軟體，包括用於分析數據和創建報告的ReviewData和InFocus。 l 備受讚譽的快速納米壓痕測試可用於生成材料力學性能圖像，並提升統計數據的可靠性。 l InQuest高速數位控制器，數據採集速率最高可達100kHz，時間常數最快為20μs。 主要應用 l 快速硬度和模量測量（基於Oliver-Pharr模型） l 快速材料表面力學特性成像 l ISO 14577硬度測試 l 薄膜及塗層測試 l 介面附著力測量 l 斷裂韌性測量 l 粘彈性測量，包括損耗因數，儲存模量和損耗模量 l 掃描探針顯微成像（3D 成像） l 定量劃痕和摩擦磨損測試 l 高溫納米壓痕測試 l V測試 行業分佈 l 高校、科研實驗室和研究所 l 半導體與封裝產業 l PVD/CVD硬質塗層（DLC、TiN） l MEMS：微機電系統/納米級通用測試 l 陶瓷與玻璃 l 金屬與合金 l 製藥 l 塗層與油漆 l 複合材料 l 電池與儲能 l 汽車與航空航太 |