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NanoFlip 納米壓痕儀
NanoFlip
納米壓痕儀
NanoFlip納米壓痕儀可在真空和氣氛條件下，準確、精密地進行硬度、模量、屈服強度、剛度和其它納米力學性能的測試。 無論在掃描電子顯微鏡（SEM）或是聚焦離子束（FIB）系統中，NanoFlip均可出色完成微柱壓縮等測試，並將SEM圖像與力學測試數據同步。 NanoFlip是一款緊湊、靈活的原位納米力學測試儀，其測試速度快，這對於在惰性條件下（例如手套箱中）測試非均質材料至關重要。 基於InForce 50電磁力作動器等多種可用功能選項，可獲取定量結果，為材料研究提供有價值的解決方案。
產品描述
NanoFlip配備高精度的XYZ移動馬達，以定位樣品進行測試，並配備翻轉機構，以定位樣品進行觀察成像。 InView軟體標配一套包括多種測試協議的測試方法，且支援用戶創建自己獨特的測試方法。 InForce 50作動器在真空和氣氛條件下表現同樣出色。 InView 軟體可以記錄SEM或其它顯微鏡圖像，並與力學測試數據同步。 革命性的FIB-to-Test技術容許將樣品傾斜90°，實現從FIB到壓痕測試的無縫轉換，而無需重新安裝樣品。
產品特色
l InForce 50作動器採用電容式位移感測和電磁力驅動，且壓頭易於更換
l InQuest高速控制器電路，數據採集速率可達100kHz，時間常數最快為20μs
l XYZ運動系統實現樣品定位
l SEM視頻採集實現SEM圖像和力學測試數據同步
l 獨特的壓頭校準系統，集成在軟體中，可實現快速、準確的壓頭校準
l InView設備控制和數據處理軟體，與Windows®10相容，可選測試方法開發工具，實現使用者自定義實驗
l 產品應用
l 硬度和模量測試（基於Oliver-Pharr模型）
l 連續剛度測量
l 快速材料力學性能成像
l ISO 14577硬度測試
l 納米動態力學分析（DMA）
l 定量劃痕和磨損測試
適用行業
l 大學、科研實驗室和研究所
l 微柱和微球製造
l MEMS：微機電系統
l 材料製造（壓縮/拉伸/斷裂測試）
l 電池和元件製造